Camacho Castillo, Jaime David, Ángel Patricio Flores Orozco, Enrique Marcelo Baño Leon, y Teresita Lourdes Argüello Estrella. «Análisis De Modelos De Deep Learning Para La detección De anomalías En Infraestructuras Virtualizadas: Una revisión sistemática». Tesla Revista Científica 6, no. 1 (junio 15, 2026): e681. Accedido agosto 18, 2026. https://tesla.puertomaderoeditorial.com.ar/index.php/tesla/article/view/681.