CAMACHO CASTILLO, Jaime David; FLORES OROZCO, Ángel Patricio; BAÑO LEON, Enrique Marcelo; ARGÜELLO ESTRELLA, Teresita Lourdes. Análisis de modelos de Deep Learning para la detección de anomalías en infraestructuras virtualizadas: Una revisión sistemática. Tesla Revista Científica, La Plata, Ar, v. 6, n. 1, p. e681, 2026. DOI: 10.55204/trc.v6i1.e681. Disponível em: https://tesla.puertomaderoeditorial.com.ar/index.php/tesla/article/view/681. Acesso em: 17 ago. 2026.